8V182512IDGGREP
Скачать datasheet 04023J0R3ABSTR.pdf Файл формата Pdf (20 страниц, 397,88 kb)
8V182512IDGGREP datasheet
-
Маркировка8V182512IDGGREP
-
ПроизводительTexas Instruments
-
ОписаниеLogic - Boundary Scan - JTAG Mil Enhanced 3.3V ABT Scan Test Device
-
Количество страниц38 шт.
-
Форматы файлаHTML, PDF
Где можно купить
Новости электроники
26.05.2024
25.05.2024
24.05.2024